arrow_drop_down
Описание
Время полета масс-спектрометра вторичных ионов TOF SIMS CAD
Автор
ID файла
23129384
Формат файла
JPG
Максимальный размер
5000 x 3000 px
векторные иллюстрацииграфический дизайнвысокое разрешениегеометрический рисуноксовременный стильтворческий баннерцифровое искусствосовременная эстетикачистая линия искусствамасштабируемая графикакоммерческие коммерческие запасыстудийная палитракоммерческий активчертеж сапркорпоративный шаблонавторские работыточное черчениепроцедурный дизайнредакционный макетвектор тонкой линииграфическое изображение презентациитехнологическая темавекторное черчениесхема вакуумной камерыаппаратура для материаловеденияустройство для аналитической химииспектрометр глубинного профилированияэлектростатический отражатель cadгеометрия летательной трубыспектрометр высокой точности по массеанализатор изотопного соотношениярасположение лабораторного оборудованияионная пушка из жидкого металлаприборы с массовым разрешениеммикроканальный пластинчатый детекторкартирование молекулярной поверхностиимпульсный первичный ионный пучокионное зеркало reflectronнаучно-аналитический сапроптика для извлечения вторичных ионовмасс-спектрометрия вторичных ионовмониторинг загрязнения полупроводниковинструмент для анализа твердого телахимическая визуализация поверхноститонкопленочный химический профилировщиканализатор времени полетаспектрометр tof simsанализ в сверхвысоком вакууме
Ключевые слова
Мы также рекомендуем:
Зарегистрируйтесь, чтобы купить и скачать
это изображение в высоком разрешении.
это изображение в высоком разрешении.
Цены на
стандартную лицензиюarrow_drop_down
для
физлицarrow_drop_down
info_outlineПодписки info_outline
240 ₽
за скачивание одного изображения в месяц
2,400 ₽ в месяц
Пакеты изображений info_outline
600 ₽
за скачивание одного изображения штучно
600 ₽ за пакет
Зарегистрируйтесь, чтобы купить и скачать
это изображение в высоком разрешении.
это изображение в высоком разрешении.
Уже есть аккаунт? Войти
